安檢門(mén)適用領(lǐng)域
適用于生產(chǎn)型企業(yè)：包括電子（如：硬盤(pán)、手機(jī)、MP3、翻譯通、錄音筆、電子器件等）、電線電纜、電器、金銀飾品、、藥品、墨盒、工礦、五金制品、電鍍、壓鑄造、水暖器材、貴金屬（銅、鋁等）及其加工等相關(guān)行業(yè)。
適用政府部門(mén)：包括公安局、檢察院、法院審判庭、監(jiān)獄、拘留所、勞教所、戒毒所等。
適用公共場(chǎng)所：包括體育館、娛樂(lè)場(chǎng)所（迪廳、歌舞廳等）、機(jī)場(chǎng)、火車(chē)站、汽車(chē)站、港口、展覽館、博物館、銀行、油庫(kù)、發(fā)電站等。
安檢門(mén)注意事項(xiàng)
1、除全防雨型安檢門(mén)以外，其他型號(hào)安檢門(mén)不能淋雨，露天下使用必須加蓋雨棚。
2、安檢門(mén)周?chē)?米內(nèi)不能有大型金屬物體，如大鐵門(mén)、電梯、大鐵柱等。
3、安檢門(mén)安裝必須固定牢靠，避免大風(fēng)或碰撞引起門(mén)體晃動(dòng)。
4、遠(yuǎn)離會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng)的物體，如配電箱、電機(jī)設(shè)備等。
安檢門(mén)原理由晶振產(chǎn)生3.5-4.95M的正弦振蕩，由分頻器分頻為7.6K左右正弦波，經(jīng)三極管與線圈進(jìn)行功率放大后輸入門(mén)板（7區(qū)）大線圈進(jìn)行電磁波發(fā)射，由門(mén)內(nèi)1-6區(qū)線圈分別進(jìn)行接收。接收后，將接收到的信號(hào)與基準(zhǔn)信號(hào)進(jìn)行了比較，發(fā)現(xiàn)變化后，改變采集卡輸出電平，CPU在280毫秒內(nèi)對(duì)6個(gè)區(qū)位采集卡數(shù)據(jù)進(jìn)行掃描，判斷金屬所在區(qū)位并輸出顯示。
二、結(jié)構(gòu) 1、門(mén)板結(jié)構(gòu)：由1個(gè)大線圈、6個(gè)小線圈、補(bǔ)償線圈及石墨組成。2、機(jī)箱結(jié)構(gòu) 安檢門(mén)
三、探測(cè)時(shí)工作流程 CPU探測(cè)→一組紅外被擋→檢測(cè)各采集卡數(shù)據(jù)是否變化→報(bào)警→檢測(cè)另一組紅外→復(fù)位重新探測(cè)。
對(duì)金屬物的探測(cè)能力檢驗(yàn)
選擇同一金屬樣品對(duì)安檢門(mén)進(jìn)行探測(cè)，漏報(bào)越小越好。
常規(guī)安檢門(mén)應(yīng)能對(duì)所有的金屬進(jìn)行探測(cè)（特種設(shè)計(jì)的探測(cè)器除外），都能通過(guò)《GB15210-2003》國(guó)標(biāo)中關(guān)于“靈敏度”標(biāo)準(zhǔn)的嚴(yán)格檢驗(yàn)。我們選擇探測(cè)的金屬樣品包含在國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)。
金屬信號(hào)檢測(cè)能力是表現(xiàn)一個(gè)金屬探測(cè)器生產(chǎn)廠家技術(shù)力量的標(biāo)志，技術(shù)好的廠家對(duì)有色金屬和黑色金屬都能進(jìn)行同樣的探測(cè)，并且在穩(wěn)定性好的條件下能對(duì)更小的金屬進(jìn)行探測(cè)，靈敏度控制很清楚。而品質(zhì)差的安檢門(mén)如果把靈敏度稍調(diào)高時(shí)，沒(méi)帶什么東西通過(guò)都亂報(bào)警，靈敏度稍調(diào)低一點(diǎn)，就要很大金屬物通過(guò)才能報(bào)警。這類(lèi)安檢門(mén)是由于內(nèi)部電路設(shè)計(jì)性能低劣，控制不線性的原因引起，不能采用。
另外由于電磁波存在方向性，因此對(duì)金屬物探測(cè)也存在方向性，對(duì)切割電磁波多的面產(chǎn)生信號(hào)相應(yīng)就強(qiáng)，對(duì)切割電磁波少的面產(chǎn)生信號(hào)相應(yīng)就弱。技術(shù)的生產(chǎn)企業(yè)能對(duì)磁場(chǎng)的方向性作均化處理，因此在安檢門(mén)同一探測(cè)區(qū)內(nèi)探測(cè)金屬物各個(gè)方向效果差異不大；如果差異較大，則漏報(bào)越大，故用戶應(yīng)選擇方向性探測(cè)均化效果好的產(chǎn)品。
選用同一種金屬物由測(cè)試人攜帶從安檢門(mén)的各個(gè)區(qū)位通過(guò)，并且在各個(gè)區(qū)位把金屬物以不同的方向通過(guò)，選擇漏報(bào)少的產(chǎn)品。對(duì)于要排除小的金屬，需要探測(cè)較大的金屬時(shí)把靈敏度調(diào)節(jié)至合適位置即可，試驗(yàn)方法同上。
